Beschreibung
Minimierte Bildverzeichnung und exzellente Abbildungsqualität von der Bildmitte bis zum Rand: Das TS-E 17mm f/4L ist eine Empfehlung für die Architekturfotografie; ein unabhängig voneinander rotierender Tilt- und Shift-Mechanismus sorgt für vielfältige Einsatzmöglichkeiten.
- Kreisrunde Blende
- SWC- (SubWavelength Structure Coating) und Super Spectra Vergütung
- Asphärische und UD-Linsen
- Unabhängige Tilt- oder Shift-Orientierung
- Neigen: ±6,5°, Schwenken: ±12 mm
- Minimierte Verzeichnung und hohe Auflösung
